分析测试中心离子/电子双束电子显微镜已圆满完成试运行测试(2022年3月14日至3月25日),并将于3月28日(周一)起,正式投入共享运行。
欢迎校内外师生预约使用。
一、仪器简介
该双束电子显微镜系统在FIB(SEM/FIB)系统的基础上配备了EDS和TOF-SIMS,不但能进行低电压超高分辨的电镜观和样品成分分析,也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积,从事内部和截面观察及全静态三维表征,以及特定图形加工工作。
二、测试项目
1. 形貌表征SE、BSE、STEM
2. 成份分析EDS
3. 高精度全元素分析TOF-SIMS
4. FIB刻蚀
5. PT沉积
三、收费标准
正式开放后,将延用原制定的收费标准:
实验类型 | 计费方式 | 校内收费 | 校外收费 |
形貌表征 SE、BSE、STEM | 时长 /样品 | 250元/小时 或100元/样品, 喷金另收20元/样品 | 300元/样品 喷金另收50元/样品 |
成份分析EDS | 时长 | 与形貌表征实验同,不另加收费用 | 在形貌表征实验基础上,加收100元/样品 |
高精度全元素分析TOF-SIMS | 时长 | 600元/小时 | 2000元/小时 |
TEM样品制备 | 样品 | 2000元/样品 | 5000元/样品 |
FIB | 时长 | 600元/小时 | 1000元/小时 |
PT | 时长 | 700元/小时 | 1000元/小时 |
四、预约方式
预约平台地址:http://gx.nuaa.edu.cn/。请通过“校内统一认证”或“校外注册用户”登录后进行预约。
具体操作流程指南可在中心网站(http://cma.nuaa.edu.cn/)查看“办事指南”或在南京航空航天大学分析测试中心微信公众号的“检测服务”栏目查看“测试流程”。
五、实验室地点
将军路校区东区航天材料楼D10-B114-1
六、联系方式
联 系 人:王修文
联系电话:025-52111606转114或235
微 信 号:nuaa-cmawxw
邮 箱:cma_office@nuaa.edu.cn
分析测试中心
2022年3月25日
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