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双束电子显微镜正式运行公告

时间:2022-03-25来源:分析测试中心点击:218


分析测试中心离子/电子双束电子显微镜已圆满完成试运行测试(2022314日至325日),并将于328日(周一)起,正式投入共享运行。

欢迎校内外师生预约使用。

一、仪器简介

该双束电子显微镜系统在FIB(SEM/FIB)系统的基础上配备了EDSTOF-SIMS,不但能进行低电压超高分辨的电镜观和样品成分分析,也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积,从事内部和截面观察及全静态三维表征,以及特定图形加工工作。

二、测试项目

1. 形貌表征SEBSESTEM

2. 成份分析EDS

3. 高精度全元素分析TOF-SIMS

4. FIB刻蚀

5. PT沉积

三、收费标准

正式开放后,将延用原制定的收费标准:

实验类型

计费方式

校内收费

校外收费

形貌表征

SEBSESTEM

时长

/样品

250/小时

100/样品,

喷金另收20/样品

300/样品

喷金另收50/样品

成份分析EDS

时长

与形貌表征实验同,不另加收费用

在形貌表征实验基础上,加收100/样品

高精度全元素分析TOF-SIMS

时长

600/小时

2000/小时

TEM样品制备

样品

2000/样品

5000/样品

FIB

时长

600/小时

1000/小时

PT

时长

700/小时

1000/小时

四、预约方式

预约平台地址:http://gx.nuaa.edu.cn/。请通过“校内统一认证”或“校外注册用户”登录后进行预约。

具体操作流程指南可在中心网站(http://cma.nuaa.edu.cn/)查看“办事指南”或在南京航空航天大学分析测试中心微信公众号的“检测服务”栏目查看“测试流程”。

五、实验室地点

将军路校区东区航天材料楼D10-B114-1

六、联系方式

联 系 人:王修文

联系电话:025-52111606114235

微 信 nuaa-cmawxw

邮    cma_office@nuaa.edu.cn


分析测试中心  

2022325 


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