7月初，南非纳尔逊·曼德拉大学物理系Jaco Olivier教授应南京航空航天大学分析测试中心邀请来校开展为期10天的学术交流，并于7月7日成功举办了一场前沿材料表征技术学术讲座。本次交流活动由人社部国家外国专家项目资助，旨在推动中心科研人员对接国际前沿技术，提高分析技术研究与开发水平。

Jaco Olivier教授的讲座以“Quantitative Transmission Electron Microscopy and Computational Imaging Techniques for Advanced Materials Development”（用于先进材料开发的定量透射电子显微镜和计算成像技术）为主题，吸引了20余名在校师生的积极参与。在交流过程中，教授首先简单介绍了南非纳尔逊·曼德拉大学及其所属的高分辨透射电子显微镜中心（CHRTEM），随后深入阐释了CHRTEM如何通过定量成像、光谱学、衍射以及诸如四维扫描透射电子显微镜（4D-STEM）等计算辅助技术的结合，来提取材料系统的详细定量数据。同时，辅以先进的数据处理、结构模拟和基于模型的参数提取框架，使得能够系统地将加工、结构、性能和表现联系起来，显著提高了材料表征的精度和效率。此外，Olivier教授重点展示了一些实例，表明这些方法在先进材料研发中的重要运用。这些前沿技术应用引起在场师生的浓厚兴趣与热烈讨论，令听众深受启发。与会师生表示，讲座内容前瞻性强、信息量大，为正在开展的材料表征研究提供了新思路和新工具。

本次交流活动为我校师生搭建了与国际顶尖学者进行深度交流的宝贵平台。以此为契机，双方将重点在联合项目探索研究、学者互访与讲学、专业技术培训研讨、青年人才培养交流等方面开展更深入的合作，提升师生和专业技术人员国际视野以及中心在相关领域的国际影响力，促进分析测试新方法、新技术的开发与应用，推动分析测试技术应用领域的创新与发展。

专家简介：

Jaco Olivier教授现任南非纳尔逊·曼德拉大学物理系副教授、纳尔逊·曼德拉大学高分辨透射电子显微镜中心（CHRTEM）主任和南非电子显微学会主席。CHRTEM是南非国家研究基金会（NRF）支持的南非国家电子显微学研究中心。Olivier教授拥有超过15年的电子显微学研究经验，专长于球差校正透射电镜（TEM）及原子尺度材料表征。其研究聚焦于应用高分辨电镜技术解析材料结构与性质。在他的领导下，CHRTEM不仅运行着非洲唯一的双球差校正透射电子显微镜，还为南非高校及产业界提供了至关重要的研究支持，推动了众多学术与工业研究项目的进展。